NenoVision vyvíjí, vyrábí a prodává revoluční typ mikroskopu atomárních sil (AFM), LiteScope™, navržený pro rychlou a snadnou integraci do rastrovacích elektronových mikroskopů (SEMs).

Služby

Kromě prodeje LiteScopu, AFM vyvinutého pro integraci do SEM, rovněž nabízíme jeho pronájem zákazníkům. Rovněž poskytujeme školení a tréningy z oblasti korelativní mikroskopie, měření zákaznických vzorků (Topografie a drsnost povrchu, disipace energie, FMM, F-z křivky, nanoindentace C-AFM, C-CPEM, KPFM, PFM, I-V spektroskopie, STM, MFM) nebo specifický výzkum na zakázku.

Hlavní oblasti výzkumu a vývoje 

Náš vývoj je zaměřen na přístroje a aplikace související s AFM v SEM. Zajímáme se a aktivně vyvíjíme techniky související s korelačním zobrazováním, využitím umělé inteligence v mikroskopii a vývojem nových technik povrchové charakterizace pomocí AFM v SEM. Naše zaměření je hlavně na aplikace v oblastech materiálové vědy, nanostruktur, polovodičů a přírodních věd.

Speciální zařízení

Litescope, mikroskop atomárních sil navržený pro snadnou integraci do rastrovacích elektronových mikroskopů (SEMs). Je kompatibilní s většinou SEMs a slouží pro in-situ korelativní analýzu nanostruktur. Kombinace doplňujících se technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie

Zajímavé odkazy:

LiteScope – AFM for SEM

Explore CPEM – the only true correlative microscopy