Dne 28. května 2025 se na Přírodovědecké fakultě Univerzity Palackého v Olomouci uskutečnil odborný workshop na téma „Pokročilé technologie ve skenovací elektronové mikroskopii (SEM) v materiálové vědě a korelace dat pro hlubší analýzu“, pořádaný ve spolupráci se společností ZEISS. Akce přilákala řadu odborníků z akademického i průmyslového prostředí, kteří zde sdíleli své zkušenosti, poznatky i nejmodernější aplikace elektronové mikroskopie.
Byly předneseny následující přednášky:
Zeiss UltraPlus na strojní fakultě VUT – zkušenosti a aplikace
doc. Ing. Vít Jan Ph.D. – VÚT
Correlative Multi-Scale-Microscopy and In-situ Automated Electron Microscopy Experiments
Ing. Ivana Burianová – ZEISS
Aplikace elektronové mikroskopie v materiálovém výzkumu na TUL
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D. – TUL
ZEISS Crossbeam: Enabling High-End Microscopy and Analytics Workflows
Dr. Kirill A. Atlasov – ZEISS
Praktická ukázka světelných mikroskopů s možností zkoumání vlastních vzorků
Ukázka elektronového mikroskopu ZEISS SIGMA 360
Ústav molekulární a translační medicíny Lékařské fakulty Univerzity Palackého
